Michael Größler
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Universität Hamburg
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Forschungsprojekt
New Computational Methods for Serial Crystallography at X-ray Free Electron Lasers
Die Verwendung von X-ray Free Electron Lasers (XFELs) erlaubt die Erzeugung von Brechungsmustern kleinster Kristalle. Die innere Struktur und insbesondere die Unordnung im Kristall selber, sorgt dabei für die Messung eines Signals neben den sogenannten Bragg Peaks. Durch die Erweiterung der Berechnungsmethoden, um dieses Signals mit einzubeziehen und brauchbar zu machen, soll die Auflösung der Struktur verbessert werden.